详细分析便携测厚仪的测量原理以及系统结构

　　便携测厚仪是利用XRF原理来分析测量金属厚度及物质成分可用於材料的涂层/镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。它的检测时间只需要10-30秒即可获得测量结果，最小测量面积为直径为0.1mm的圆面积；测量范围：0-35um；可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。

 

　　便携测厚仪的测量原理：

　　物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。

 

　　便携测厚仪系统结构：

　　测量部分的结构：用于照射的X射线是采用由上往下照射方式，用准直器来确定X射线的光束大小。

　　样品的观察是利用与照射用的X射线同轴的CCD摄像机所摄制的图像来确定想要测量的样品位置。标准配备了多种尺寸的准直器可根据需要调整照射X射线的光束大小来决定测量面积，最小可测量面积是40umф。

 

　　便携测厚仪的特色：

　　1、非破坏，非接触式检测分析，快速精准。

　　2、可测量高达六层的镀层并可同时分析多种元素。

　　3、全系列*设计样品与光径自动对准系统。

　　4、移动方式：全系列全自动载台电动控制，减少人为视差。

　　5、标准配备：溶液分析软体，可以分析电镀液成份与含量。

　　6、准直器口径多种选择，可根据样品大小来选择准值器的口径。

　　7、标准ROI软体：搭配内建多种专业报告格式，亦可将数据、图形、统计等作成完整报告。

　　8、相容Microsoft微软作业系统之测量软体，操作方便，直接可用Office软体编辑报告。