手动双轴扫查器GLIDER滑动超声PAUT

OmniScan SX手动双轴扫查器GLIDER滑动超声PAUT

手动双轴扫查器GLIDER（滑动）扫查器

GLIDER（滑动）扫查器

GLIDER（滑动）扫查器是一款用于对平面或稍微弯曲的复合材料表面进行手动检测的双轴编码扫查器。这款由吸盘支撑的扫查器非常适合于光栅扫查。这款扫查器使用涡流阵列、涡流、超声、相控阵技术。

GLIDER™ X-Y扫查器是双轴编码扫查器用于手动检验微曲面或平面复合表面。该扫查器特别适合光栅扫描，有下列技术：

•常规超声(UT)

•相控阵超声(相控阵)

•涡流(EC)

•涡流相控阵(ECA)

一般检验的材料包括复合材料和铝材，（ 使用吸杯支脚），以及碳钢（使用供选择的磁支脚）。

设计特性

X轴与两个安装支脚相连。根据待检的材料，可以选择下面两种形式：

• 吸杯是安装支脚(供货内容)

• 磁性安装支脚(供选择)

有两种编码器模件(每个轴上一个)，报告探头位置。模件位移可以是3.27mm增幅，或是自由移动模式。

根据扫描覆盖需要，该扫查器有三种形式, (18 in、 24 in和36 in)：

•GLIDER 18×18

•GLIDER 24×24

•GLIDER 36×36

特性

•特别适用相控阵UT，常规UT和涡流检验技术，适用一个探头。

•可兼容OmniScan®、TomoScanFOCUS LT™ (选配一个适配器)以及其他适合编码导线的设备。

•双轴带防水的编码器，用于地位-编码X-Y扫描。

•轴定位回退小。

•支撑上装有两个模件，获得平稳的位移。

•两个能旋转的安装纵槽，实现表面跟踪。

•锁定装置，每个轴都可锁定。

•模件位移可以是3.27mm增幅，或是自由移动模式。

•探头夹持器装在支撑臂系统上。如果需要，该系统可以弹簧加载。

•铝框架，既轻又防腐。

•Y轴可以容易地缩短，用于较小表面半径检测，或拆下便于运输。

OmniScan SX手动双轴扫查器GLIDER滑动超声PAUT

用途

•复合材料的检测。

•飞机机身脱层和裂缝检测。

•铁磁板腐蚀检测。

•铝材膜材搅动焊缝检测。

重量:5到8 ，取决于具体配置

吸杯式支脚抓力：每杯7kg。

磁性支脚抓力：每座81kg。

编码器分辨率：13步/mm (±0.15步/mm)，330步

/in(±0.006步/in)。

部分扫描小曲率：50cm(20in)外径。

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