Scan X Ellipse计算机X射线成像系统

简要描述：Scan X Ellipse计算机X射线成像系统提供灵活性的成像板扫描⽅方式,可扫描任意⻓长度、不同形状的成像板,还能同时扫描多张成像板,并能对多张成像板进⾏一次性擦除。

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Product classification

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详细介绍

Scan X Ellipse计算机X射线成像系统

⾼分辨率可达12.5 μm

- 基本空间分辨率可达40μm

- IP板重复使⽤用多达25000次

- BAM实验室认证产品

- 灰度等级可达16 bit

- 显著减少曝光时间

- 操作简单、维护⽅方便

- 以太⺴数据交换

Scan X Ellipse计算机X射线成像系统

可让⽤用户定义扫描分辨率。扫描分辨率从20 μm到100 μm可调,既适用于高精度焊缝检测,也能满⾜短曝光时间、检测速度快的应⽤场合。⽆极调节的扫描分辨率确保能以扫描参数满⾜各种检测应⽤领域的需求。

高分辨率成像板和ScanX Discover HR扫描仪相结合,基本空间分辨率可以达到40 μm。

无论检测环境是在生产现场或是实验室,ScanX Discover HR*的特性、超高的图像质量以及多功能性可满足各种苛刻的需求。通过选择不同成像板类型,调整扫描参数,用户可以自定义图像质量和曝光时间来完成各种检测。

ScanX Discover HR提供灵活性的成像板扫描⽅方式,可扫描任意⻓长度、不同形状的成像板,还能同时扫描多张成像板,并能对多张成像板进⾏一次性擦除。

ScanX View软件与扫描仪兼容性强,内含的⼯工具有助于将检测结果调节到显⽰状态,且结果反复可调。

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