当前位置:首页 > 产品中心 > > 菲希尔/fischer > XDL230型菲希尔台式贵金属元素分析仪荧光镀层测厚仪
产品分类
Product classification相关文章
RELATED ARTICLES详细介绍
菲希尔台式贵金属元素分析仪荧光镀层测厚仪
主要技术指标:(标★为重要参数)1、测量原理:X射线荧光光谱法测量镀层厚度2、测量方式:无损检测,可自动聚焦3、元素测量范围: Cl(17)--U(92),多可测量24种元素23层镀层。★4、手动X/Y平台,移动范围≥95x150mm,可用工作台面≥420x450mm5、电动Z轴,手动/自动聚焦,可移动范围≥140mm★6、采用DCM(测量距离补偿法)可远距离对焦测量腔体样品,可达80mm深度★7、满足可变高压30KV,40KV,50KV三种可调节,以满足不同的测试需求。★8、准直器:φ0.3的圆形准直器9、X射线探测器:比例接收器10、统计计算:数据组带时间和时期功能,统计功能包含平均值、标准偏差、大值、小值等;还可输入公差范围,计算CP和Cpk值,超范围值时仪器应有自动报警提示功能11、windows7以上中文操作界面,WinFTM专业测试软件,具备连接PC和打印机的USB借口★12、测量误差:镀层厚度≥0.5um时,顶层镀层测量精度≤5%★13、采用*基本参数法,内置1
菲希尔台式贵金属元素分析仪荧光镀层测厚仪
上海玖横仪器有限公司是一家专业从事仪器仪表研发、生产、销售及服务的企业。超声波探伤仪:(EPOCH 600超声探伤仪、EPOCH 6LT超声探伤仪、EPOCH 650超声探伤仪、EPOCH 1000超声探伤仪、USM 36超声探伤仪、USN 60超声探伤仪、USM go+超声探伤仪、Ominscan SX相控阵探伤仪、OmniScan MX2相控阵TOFD探伤仪);超声波测厚仪:(27MG超声波测厚仪、45MG超声波测厚仪、38DL PLUS超声波测厚仪、DM5E超声波测厚仪、CL5超声波测厚仪、MAGNA-MIKE 8600霍尔效应测厚仪,ETG-100电磁高温测厚仪);超声波探头;定制相控阵探头;涡流探伤仪:(NORTEC 600涡流探伤仪);硬度计;内窥镜:(IPLEX NX奥林巴斯内窥镜、IPLEX GX/GT奥林巴斯内窥镜、IPLEX G Lite奥林巴斯内窥镜、IPLEX TX奥林巴斯内窥镜、IPLEX YS奥林巴斯内窥镜、XLGo+工业视频内窥镜GE、XL Detect+工业视频内窥镜GE新款、UVin专业紫外视频内窥镜、);脉冲发生器:(DRP300替代奥林巴斯的5072PR,5073PR);合金分析仪:(Vanta奥林巴斯手持式合金分析仪、DELTA Professional手持式合金分析仪奥林巴斯、DELTA Element手持式合金分析仪奥林巴斯)等仪器仪表。上海玖横仪器有限公司SWC-2横波耦合剂,横波探头的耦合剂。
产品咨询